半導(dǎo)體冷熱沖擊測試箱

簡介

豪恩系列半導(dǎo)體冷熱沖擊測試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測試工具。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

主要技術(shù)參數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；

2、GB/T2423.2-2001；

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；

4. GJB150.3-86；

5. GJB150.4-86；

6. GJB150.5-86；

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；

10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化；

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；

13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。